컨볼루션 프로파일링 시스템, CPS-2000

 

 

소 개

 

§ Jodon CPS-2000은 핀 밀로 생산된 서펜틴 컨볼루션 샘플을 검사하도록 설계되었습니다.  통상적으로, 핀 밀은

 

  라디에이터, 히터, 응축기 및 증발기의 열교환 부품으로 사용하기 위한 알루미늄 서펜틴 핀을 생산합니다.  냉각 핀

 

  컨볼루션 열이 핀 밀을 빠져 나오는 속도는 매우 빠르기 때문에 온라인 측정은 매우 어렵습니다. 

 

§ 결과적으로, CPS-2000은 냉각 핀 (공기 위주) 규격에 반한 치수의 특성을 정밀하게 측정하기 위해 오프-라인 측정

 

  시스템으로 사용됩니다.  CPS-2000은 거의 모든 냉각 핀을 측정하도록 구성 할 수 있습니다.

 

§ CPS-2000은 각 컨볼루션의 프로파일을 측정하기 위해 2개의 매우 정밀한 레이저 거리 센서가 내장되어 있습니다.

 

  한 레이저는 뒷부분으로 향한 프로파일을 측정하고, 다른 레이저는 전방을 향하는 프로파일을 측정합니다.  각 프로

 

  파일의 컨벌루션 매우 정확한 측정 값을 제공하도록 차동 정교한 프로세스를 이용하여, 레이저 출력이 결합된다. 

 

  프로파일 데이터를 수집 한 후, 시스템은 (1) 컨벌루션 높이 (2)연속 컨볼루션 사이의 높이의 차이, (3)각 컨볼루션의

 

  곡률의 접촉 반경, (4) 컨벌루션 대칭 (즉, "경사") 및 (5) 핀 밀도 (예를 들어, 데시 미터 당 회선 또는 인치 당 핀)를

 

  계산합니다.

 

§ 레이저 센서는 정확한 X, Y 및 Z 축 변환 스테이지에 장착되어 난해한 핀 디자인의 폭 넚은 다양성을 수용하고,

 

  복수 패스 스캔을 허용합니다. 이러한 스테퍼-모터로 제어된 스테이지는 레이저가 샘플의 폭을 횡단하고(X-축),

 

  샘플의 폭을 가로질러 통과하도록 반복된 페스를 (원하는 경우) 허용합니다(Y-축).  Z-축 번역기는 레이저들이

 

   X-축과 Y축을 스캔 하는 동안 샘플의 전면에서 (그리고 후면에서) 접근할 수 있게 허용합니다.  Z 축은, 그러므로,

 

   매우 넓은 범위의 샘플 높이를 조사할 수 있도록 허용합니다.

 

§ 다양한 그래픽적인 프레젠테이션 또한 운영자에게 핀 밀 성능의 체계적인 분석을 할 수 있게 해 줍니다.  새 툴링의

 

  구성을 확인하는 것 외에도, 사용자는 에어 갭(납땜 불량), 핀 및 튜브 높이의 비호환성, 공구 마모와 같은 잠재적인

 

  문제의 시작을 모니터링 할 수 있다.

 

§ 또한, 저장된 측정 데이터로 특별히 변칙 트렌드에 관련된 장기적인 핀 밀 성능을 평가할 수 있습니다.

 

 

CPS-2000의 작동 방식

 

§ Jodon CPS-2000은 핀 밀로 생산된 서펜틴 컨볼루션 샘플을 검사하도록 설계되었습니다.  통상적으로, 핀 밀은

  라디에이터, 히터, 응축기 및 증발기의 열교환 부품으로 사용하기 위한 알루미늄 서펜틴 핀을 생산합니다.  냉각 핀

  컨볼루션 열이 핀 밀을 빠져 나오는 속도는 매우 빠르기 때문에 온라인 측정은 매우 어렵습니다. 

§ 결과적으로, CPS-2000은 냉각 핀 (공기 위주) 규격에 반한 치수의 특성을 정밀하게 측정하기 위해 오프-라인 측정

  시스템으로 사용됩니다.  CPS-2000은 거의 모든 냉각 핀을 측정하도록 구성 할 수 있습니다.

§ 냉각 핀 샘플을 검사하려면, 핀 밀의 제품을 임의로 선택하고, 핀 밀 성형 롤 중 적어도 하나의 완전한 회전을

  나타내는 길이로 절단합니다.  예를 들면, 성형 롤이 18개의 이가 있는 경우, 적어도 18개의 측정 가능한

  컨볼루션들이 있는 샘플로 준비해야 합니다.  더 많은 컨볼루션을 측정하도록 게이지가 프로그램 되어 있을 수록,

  테스트 시간이 길어진다는 것을 유념해야 합니다.  표준 CPS-2000 핀 장착 픽스쳐는 최대 300mm (12인치)의 핀

  스트립을 수용할 수 있습니다.  스트립의 핀 밀도에 따라, 샘플의 길이의 수는 성형 롤의 여러 레볼루션이 될 수

  있습니다. 

§ 준비된 샘플을 알맞게 계측하기 위하여 알루미늄 지그에 배치합니다. CPS 계측 시스템으로 전송 될 수 있도록

  픽스쳐 내에 수평 되게 고정시켜 줍니다. 이 지그와 픽스쳐는 거의 모든 컨벌루션 샘플이 수용 될 수 있는 방식으로

  만들어집니다.

§ 샘플을 설치하고 클램프 되면, 픽스쳐는 게이지로 전달되고, 대기하고 있는 픽스쳐 수신기에 삽입됩니다.

§ 운영자는 이제 얼마나 많은 컨볼루션을 측정할 지, 또 샘플의 폭을 얼마나 많이 패스 할 지를 결정합니다.  빠른

  테스트를 하려면, 샘플의 중심부를 지나는 한번의 스위프면 충분할 수 있습니다. 더 상세한 검사를 위해서는,

  운영자가 샘플 중심과 각각의 가장자리를 스캔 하도록 선택할 수 있습니다.

 

측정 시스템 디자인 고려사항

 

§ 한 컨볼루션에서 다음 컨볼루션까지의 비균일한 컨볼루션 높이

§ 각 컨볼루션의 스팬의 범위에 걸친 비균일한 컨볼루션의 높이

§ 개별 컨볼루션의 옆쪽이 굽어 있을 수 있다.

§ 샘플 재료는 높은 반사율을 가질 수 있다.  

§ 컨볼루션 프로파일 측정은 테스트 샘플의 양면 다 되어야 한다.

§ 루버 패널 테스트 샘플은 샘플을 왜곡하지 않는 방식으로 실행되어야 한다.

§ 사용자는 부분적이거나, 하나 혹은 그 이상의 컨볼루션  프로파일 측정이 요구 될 수 있다.  

 

시스템 기능  

 

§ 0.0001 인치의 회선 높이 해상도를 제공합니다.

§ 0.0005 인치의 회선 높이 정확도를 제공한다.

§ 단위 길이 당 컨볼루션의 측정

§ 컨볼루션 접촉 반경의 측정

§ 대칭의 측정 ( "slant" 또는 "lean")

§ 각 시험의 측정 결과의 통계적인 개요

§ PC 기반 운영, 데이터 저장, 및 그래프

§ 롤이나 기계에 의한 결과의 장기 저장

§ 각 루버 형이나 핀 장비에 따라 사용자 필요에 맞춘 테스트 정의

 

어플리케이션

 

§ 핀 머신 툴 디자인

§ 핀 머신 툴 확인 (사용자 또는 공급 업체)

§ 루버 패널 개발 및 디자인

§ 제조 공정의 품질 관리 모니터링

§ 튜브 크라운 높이에 부합하는 루버 높이의 지속적인 조정

 

규 격

 

§ 시스템 유형 : 비접촉 전기 광학 다축 정밀 계측 시스템

§ 측정 방법 : 시험 제품을 픽스쳐에 놓고 게이지에 삽입. 레이저 거리 측정 센서(2)가

  3개의 직각으로 지향된 선형 스테이지로 이동되어 샘플의 정확한 스캔을 허용.

§ 핀 샘플 재질 : 알루미늄 (또는 구리 황동) 써펜틴 컨볼루션 스타일 냉각 핀 (항공 센터).

§ 광원 : 가시적 레이저 다이오드

§ 파장 : 670 나노 미터

§ 안전 코드 : CDRH 클래스 II

§ 빛 감지 : CCD 배열의 영상

§ 컴퓨터 (최소):
    CPU : 델의 OptiPlex
    램 : 2GBytes
    하드 드라이브 : 80GB
    하드 디스크 : 10GBytes
    백업 : USB 플래시 드라이브
    향상된 키보드 (산업)
    모니터 : 19 인치 LCD
    미드 타워 인클로저

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

                        위의 CPS 차트는 50-컨볼루션 샘플의 개별 높이와 통계 요약을 보여줍니다.

                        전면 및 후면의 결과는 폭에 걸쳐 3개의 영역을 각각 표시합니다. 1 및 3의 영역은 각

                        컨볼루션의 상부 및 하부 부근의 높이를 나타냅니다. 2 영역 측정은 각 컨볼루션의

                        중간 점입니다 (2 영역은 1과 3 영역 보다 약 80 미크론 큰 것을 알 수 있습니다).

 

 

 

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