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루버 각 측정 보조 시스템, CPS-LAM 2000

 

 

CPS-LAM으로 루버 핀의 다음과 같은 측정 결과를 얻을 수 있습니다:

 

§ 각 창 내의 개별 루버의 3 곳의 루버 각 

 

§ 개별 루버에 대한 범위 또는 트위스트와 같은 변형의 양

 

§ 각 창에 대한 모든 루버의 평균 트위스트 (첫번째 및 마지막 루버 제외)

 

§ 각 창 내의 각 범위의 루버 각의 표준 편차 

 

§ 각 창 내의 3 루버들의 루버 오프닝의 전체 루버 길이 

 

 

 

 

CPS-LAM으로 웨이비 핀의 다음과 같은 측정 결과를 얻을 수 있습니다:

 

§ 각 핀의 개별 표면의 3 곳(영역)의 각 

 

§ 각 핀의 개별 표면의 3 곳(영역)의 깊이; 다른 말로 하면, 각 범프 또는 인덴트

 

사이의 차이 그리고 그 주위의 인덴트 또는 범프

 

§ 각 핀의 개별 표면의 3 곳(영역)에 반곡; 다른 말로 하면, 각 범프 또는 인덴트

 

사이의 거리 및 그 주면의 인덴트 또는 범프

 

시스템  개요

 

 CPS-LAM 보조 시스템은 컨볼루션 된 핀 샘플의 매우 상세한 기능을 측정할 필요가 있는 열교환기 산업에 맞춰 설계 되었습니다. 이 디자인은 루버 핀의 벌크 트렌스미션 퍼센트 및 전체 루버 창을 기반으로 한 루버 각을 측정하는 저희 세계 산업 표준의 LAC-2000 시스템에서 얻은 결과에서 얻은 의문점에서 시작되었습니다.  어떤 경우는 새로운 포밍 롤에서 생산 된 핀 샘플의 %BT가 명백한 설명 없이 낮을 때도 있었습니다. 

LAM은 이 질문에 답을 주기 위해 개발 되었습니다.  LAM으로 각 착 내의 개별 루버의 영역의 루버 각을 측정 할 수 있게 되었습니다.  또한 이 시스템은 각 루버에 있는 트위스트의 양, 모든 루버의 평균 트위스트, 루버 길이, 그리고 루버 각의 표준 편차를 측정할 수 있습니다. 

LAC-2000이 폼 롤을 시간이 지남에 따라 모니터링 할 수 있는 훌륭한 방법이라고 하면, LAM은 인커밍 폼 롤을 규정하고 시간이 지남에 따른 성능의 문제를 진단하는데 그 역할을 다할 수 있는 훨씬 간결한 방법입니다.  LAM은 LAC-2000의 대체품 또는 대안이 아닙니다; 이들은 함께 사용되어야 합니다.

시스템이 처음 제작되었을 때 부터, LAM 소프트웨어는 오프로드 핀(물결)을 테스트하기 위해 확장되었으며, 지금은 루버 된 납작 핀 (사진 참조)과 루버의 버(burr)를 테스트 하기 위해 개발 단계에 있습니다. 

 

 

시스템 운영

 

사진과 같이, 핀 샘플을 준비하여 LAM 샘플 홀더에 설치 합니다.  샘플 홀더에 설치하기 전, 상부 및 하부 핀들이 레이져에 스캔 될 수 있도록 핀 샘플을 접습니다. (접힌 샘플은 LAC-2000 시스템으로 측정 시의 샘플과 같다.)  

핀 샘플을 설치하고 CPS-2000내의 샘플 홀더에 위치되면, LAM 테스트는 소프트웨어로 쉽게 시작 될 수 있다.  전면 레이져가 상부 핀을 스캔 할 것이다. 그리고 후면 레이져가 하부 핀을 스캔 한다.  

모든 필요한 레이져 스캔이 완료되면, 측정 결과가 (1) 다양한 그래프, (2) 상세한 수치 텍스트 디스플레이, 그리고 (3) 텍스트 보고서 요약으로 유효하다. 

 

측정 시스템 설계 고려 사항 

 

* 각 개별 루버의 길이 또는 오프로드 핀 표면에 따라 각이 다를 수 있다.

* 루버 구멍 길이는 공구 품질과 설정의 중요한 지표이다. 

* 핀의 폭, 불일치 루버, 또는 오프로드 핀 표면은 실질적으로 전열 성능을 저하시키는데 영향을 줄 수 있다.

* 핀 재료는 높은 반사율을 가질 수 있다.

* 핀 샘플은 샘플이 왜곡되지 않는 방식으로 유지 되어야 한다. 

* 사용자는 각 핀의 폭을 가로지르는 하나 또는 그 이상의 영역을 측정해야 할 수 있다.

 

시스템 기능

 

* 루버 핀 각, 루버 트위스트, 루버 구멍 길이의 측정

* 오프로드 핀 표면, 표면 깊이, 반 간펵 표면의 측정

* 각 테스트의 측정 결과의 광범위한 그래프 

* 각 테스트의 측정 결과의 통계적인 요약 

* PC 기반 조작, 데이터 저장, 및 그래프

* 각 핀 종류에 대한 사용자의 요구 사항에 따른 시험 설정 

 

어플리케이션

 

* 핀 디자인 연구 및 개발

* 핀 장비 툴링 디자인

* 핀 장비 툴링 검증 (사용자 또는 공급 업체)

* 제조 공정 품질 모니터링

* 제조 공정 문제 진단 

조던은 LAM 샘플 홀더가 컨볼루션 핀 샘플 및 오프로드 핀 샘플, 그리고 플렛 핀 샘플을 수용할 수 있도록 설계하였습니다. 각 종류의 샘플 홀더는 베이스 픽스쳐에서 풀어내어 다른 홀더로 손쉽게 교체 할 수 있습니다.  전체 홀더가 종류별로 제자리에 정확하게 장착 될 수 있도록, 각 샘플 홀더를 장착하기에 앞서 3 점에 맞추어 놓이게 됩니다. 

 

Specification

 

System Type: Non-contact electro-optical, multi-axis precision gauging system

Method of Measurement: Test piece placed in fixture and inserted into gauge. Laser distance measuring sensors (2) transported by orthogonally oriented linear stages (3) permit precise scanning of sample.

Fin Sample Material: Aluminum (or copper brass) serpentine convolution style cooling fins (air centers)

Displacement Sensor: Light Source (Visible laser diode

Wavelength: 650 nanometers

Safety Code: CDRH Class II (less than 0.95 mW)

Light Detection : Imaging on CCD array

Computer (minimum):

CPU: Dell OptiPlex

Ram: 4 GB

Hard Disk: 500 BG

Disk Drive: DVD +/- RW

Backup: USB Flash Drive

Monitor: 24-inch, LCD

Operating System: Windows 7 Pro

Enclosure: Mid Tower

Customer Support : +82 (0)54 972 6767

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